密封圈的失效形式与对策

O型圈在使用过程中会产生失效，O型圈的失效会引发许多事故，从而带来许多安全事故以及生产上的损失。
要使O型圈获得最优的使用寿命和可靠性，设计人员必须选择正确的O型圈材料，而且要深入了解影响密封功能的各种因素。几种常见的密封圈失效形式以及其造成原因和解决方法介绍如下。
安装损伤
描 述: 密封件部分或全部呈现整齐伤口。
造成原因：沟槽等部件边角锋利,密封件尺寸不适。密封件硬度或弹性过低；密封件表面有污物。
解决方法：清除锋利边角；沟槽设计更加合理；选择尺寸合适的密封件；选择弹性更大硬度更高的密封件。
密封件卷曲
描 述：密封件明显呈现卷曲情况。
造成原因：安装造成，运动速度太低，材料太硬或弹性太小，O型圈表面处理不均匀，沟槽尺寸不均匀，沟槽表面粗糙，润滑不足。
解决办法：正确安装，选用高弹型材料，选择可自润滑的材料，适当的沟槽设计及表面光洁度，尽量使用支撑环。
过度压缩
描 述： 密封件接触表面呈平面变形，并可能伴随裂纹。
造成原因： 设计不合理；没有考虑到材料由于热量及化学介质引起的变形，或由于压力过大引起。
解决办法： 沟槽的设计应考虑材料由于温度及化学介质引起的变形。
挤压
描 述： 密封件有粗糙破烂的边缘，一般通常在压力低的一侧。
造成原因： 间隙过大；压力过大；材料硬度或弹性太低；沟槽空间太小；间隙尺寸不规则；沟槽边角过于锋利；密封件尺寸不合适。
解决办法： 降低间隙尺寸，选用更高硬度或弹性的材料，合理的沟槽设计。
永久压缩变形
描 述： 密封件接触表面呈现平面永久变形。
造成原因： 压力过大；温度过高；材料没有完成硫化处理；材料本身永久变形率过高；材料在化学介质中过度膨胀。
解决办法： 选择低变形率的材料；合适的沟槽设计；确认材料与介质相容。
化学腐蚀
描 述： 化学腐蚀可引起密封件的各种缺陷，如发泡，破裂，小洞或褪色等，有时化学腐蚀仅可通过仪器测量其物理性能而得知。
造成原因： 材料与介质不符或温度过高。
解决办法： 选择更加耐化学介质的材料。
热腐蚀
描 述： 密封件的高温接触表面呈现径向裂纹，另外有的材料可能会变软，或因温度过高而使材料变得有光泽。
造成原因： 材料不能承受高温，或温度超出预计温度，或温度变化过快过频繁。
解决方法： 选择具有抗高温性能材料，如可能尽量降低密封面温度。
磨损
描 述： 密封件全部或部分密封区域产生磨损，可在密封表面找到材料磨损的颗粒。
造成原因： 密封表面光洁度不够，温度过高，渗入磨损性强的污物，密封件产生相对运动，密封件表面处理不彻底。
解决方法： 使用推荐的沟槽光洁度，使用可自我润滑的材料，清除造成磨损的部件和环境。
压力爆破
描 述： 密封件表面呈现气泡，凹坑，疤痕；压力很大时材料吸收介质内的气体，当压力突然减少时，材料所吸收的气体快速逃出。造成密封表皮爆破。
造成原因： 压力变化太快，材料的硬度和弹性过低。
解决办法： 选择高硬度高弹性的材料，降低减压的速度。
电腐蚀
描 述： 密封件褪色，同时有粉末状物质残留在表面，与介质无接触一侧有腐蚀痕迹。
造成原因： 化学反应产生电解，溅蚀（离子对结构表面冲击引起材料损耗），灼热，沟槽设计不合理。密封件材料与介质不相容。
解决办法： 选择与介质相适合的材料，降低暴露区域，检查沟槽设计。
气体析出材料损失
描 述： 此缺陷通常较难检测，密封件通常表现为截面尺寸减少。
造成原因： 材料硫化处理不当，高真空密封要求，材料硬度过低，或使用了带有增塑剂的材料。
解决办法：避免使用带有增塑剂的材料，确认密封件经过正确的硫化处理以减低泄露。
污染
描 述： 密封件截面有异物。
造成原因： 生产过程受环境有污染，材料遭到腐蚀或产生反应，材料为非半导体行业等级的材料。
解决方法： 注明生产及包装要求的清洁度，加强密封件生产运输使用过程的环境控制

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